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上海楹點檢測設備有限公司
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Equotip 550 Leeb便攜式硬度檢測
Equotip 550 是便攜式硬度檢測中功能較齊全的一體化解決方案。 里氏硬度原理基于動態（回彈）法，較適用于重型、大型或已安裝部件的現場檢測。
結合 Equotip Portable Rockwell 探頭，Equotip 550 可使用傳統的洛氏硬度靜態檢測法。 這將能夠在現場自動將 Leeb 關聯至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值。
新一代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業*精心設計的界面，提高了檢測效率和改善用戶體驗。 改進的軟件可提供互動向導、自動驗證進程、個性化選項和自定義報告功能。 此外，該儀器可兼容后續開發產品。
全彩顯示屏使您能夠執行較高質量的測量和對已測得數據進行分析。特殊設計的外殼適于惡劣的現場使用環境。
迄今為止，Proceq 的 Equotip 已經成為**廣泛認可的測量技術和行業標準。 Equotip 裝置完全滿足眾多行業對無損硬度檢測的要求。
Equotip Leeb
根據需要自動轉換至所有通用的硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）
自動更正沖擊方向確保高準確度 ± 4 HL（硬度為 800 HL 時，準確度為 0.5%）
測量范圍廣泛，可利用各種沖擊裝置和支撐環來滿足絕大多數的硬度檢測要求。
每個沖擊裝置均可使用硬度范圍廣泛和精確的硬度測試塊，，用于定期驗證。
Equotip 550 Touchscreen Unit
模塊化概念： 利用各種型號的探頭和配件靈活配置各種行業應用
組合法： 在現場自動將 Leeb 關聯至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值
引導向導： 預定義工作流以增強進程可靠性和提高測量精確度
自動驗證： 根據 ISO 16859 和 ASTM A956 逐步驗證
互動指南： 通過屏幕通知為您的應用獲取較相關的設置
轉換曲線： 直接在儀器上創建、編輯和驗證轉換曲線
自定義報告： 模塊化報告處理器允許自定義測量報告
自動選項： 將 NDT 自動操作集成至質量管理系統和自動檢測環境
外殼經過特殊設計，可用于嚴苛的現場環境 (IP 54)，包括背帶、集成支架和遮陽蓋
高分辨率彩色顯示屏
電池使用時長 > 8h
8 GB 閃存
雙核處理器，支持各種通信接口和外圍接口： 探頭連接器、USB 主機、USB 裝置和以太網
通過直接兼容后續開發產品，實現未來**投資
里氏回彈硬度檢測主要用于金屬測量，還可用于復合材料、橡膠和巖石檢測
較合適用于材料挑選、驗收和生產環節檢測
較合適用于重型和大型部件安裝前后的現場檢測
方便用于難進入或空間有限的金屬硬度檢測場地
Proceq 提供一些附件，例如一個測量夾或幾個支撐腳，適合在各種測試件結構上進行手動硬度測量
標準
ASTM A956 / E140 / A370
ISO EN 16859
DIN 50156
GB/T 17394
JB/T 9378
準則
ASME CRTD-91
DGZfP Guideline MC 1
VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1
Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36
儀器: | |
顯示屏 | 7” 彩色顯示屏 800 x 480 像素 |
內存 | 內置 8 GB 閃存 |
區域設置 | 公制和英制單位，支持多種語言和時區 |
電池 | 鋰聚合物，3.6 V、14.0 Ah |
電池使用時長 | > 8h（標準操作模式下） |
電源輸入 | 12 V +/-25 % / 1.5 A |
重量（顯示裝置） | 大約 1525 g（含電池） |
尺寸 | 250 x 162 x 62 mm |
較高海拔 | 2500 m 海拔高度 |
濕度 | < 95?%RH，非冷凝 |
操作溫度 | 0°C 至 30°C（32 至 86°F） |
環境 | 適合室內與室外使用 |
IP 等級 | IP 54 |
污染等級 | 2 |
安裝類別 | 2 |
Equotip Leeb 沖擊裝置: | |
測量范圍 | 1-999 HL |
測量精度 | ± 4 HL（800 HL 時為 0.5 %） |
分辨率 | 1 HL；1 HV；1 HB；0.1 HRA；0.1 HRB； |
沖擊方向 | 自動補償（DL 探頭除外） |
沖擊能量 | D、DC、E、S 探頭為 11.5 Nmm DL 探頭為 11.1 Nmm C 探頭為 3.0 Nmm G 探頭為 90.0 Nmm |
沖擊體質量 | D、DC、E、S 探頭為 5.45 克（0.2 盎司） DL 探頭為 7.25 克（0.26 盎司） C 探頭為 3.10 克（0.11 盎司） G 探頭為 20.0 克（0.71 盎司） |
球壓頭 | C、D、DC 探頭為碳化鎢，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸） DL 探頭為碳化鎢，直徑 2.78 毫米 G 探頭為碳化鎢，直徑 5.0 毫米（0.2 英寸） S 探頭為陶瓷，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸） E 探頭為多晶金剛石，直徑 |
操作溫度 | –10?C 至 50?C（14 至 122°F） |
保修
電子部件的保修期統一為 2 年
可選擇較多3年時間的有償續保